光學表面測量系統 Leica DCM8

光學表面測量系統 Leica DCM8

很容易匹配您的樣本：

能夠對Leica DCM8進行配置以便適用于您的樣本，從反光性表面，到透明層下的表面，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質物鏡。對于大尺寸樣本來說，從我們的可調整鏡筒和電動載物臺系列中進行選擇。除此之外系統還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用于具體材料觀察的波長。

能夠有效地對結構進行分析：

我們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制Leica DCM8設備。配方方案，多樣本和統計分析能夠優化工作流程。您是否還需要執行更為復雜的三維測量任務？那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會進一步擴展系統的測量功能。

光學表面測量系統 Leica DCM8

獲取高質量的圖像：

通過將性能的光學元件與高清CCD攝像頭、紅色、綠色、藍色和白色LED光源相結合，Leica DCM8能夠提供具有逼真的高清彩色圖像。再加上LED的連續性，能夠確保每個像素都能夠記錄真彩信息。分辨率和對比度提高的結果就是能夠為您的樣本提供水晶版清晰透徹的圖像。

目前和將來都夠獲取非?？煽康慕Y果：

高清微顯示掃描技術未配置任何運動部件，CCD攝像頭和4個LED燈均布置在兼顧緊湊的傳感器頭中。這種創新性設計能夠實現快速、可復制且無噪聲的圖像結果。值得一提的是，設備還具有較高的耐久性，實際上在較長的使用壽命期限內設備幾乎不需要任何維護操作。

材料性能*化：

不管您是用于生產用途還是研究用途，Leica DCM8均能夠提供您所需要的精確、且可重復的測量分析結果，以便實現材料性能的優化。

Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學表面測量技術。設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優點的多功能雙核系統。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術確保用戶實現超快速的分析操作。

具有*的精確度和可重復性

您所查看的產品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌？使用高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的產品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量（VSI）；相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。